描述
Metricon Model 2010棱鏡耦合儀使用先進的光波導(dǎo)技術(shù)對電介質(zhì)及聚合物膜的膜厚和折射率/雙折射進行快速及準(zhǔn)確 的測量。對于許多薄膜及光波導(dǎo)用途，Model 2010提供了比以橢圓光度法或分光光度法為基礎(chǔ)的傳統(tǒng)儀器更獨特的技術(shù)。
優(yōu)勢
Model 2010數(shù)據(jù)分析軟件是完全通用的，兼容Windows XP / Vista / Windows 7,極大地提高了用戶友好的控制程序, 和新測量的功能，允許測量從常見到特殊的薄膜而不需依靠內(nèi)部系數(shù)或菜單式校準(zhǔn)曲線。
不必預(yù)先知曉厚度及折射率
±.0005常規(guī)折射率分辨率-尤其在大批量生產(chǎn)時比其他技術(shù)更具優(yōu)勢（可獲得更高折射率） 完全通用化-沒有固定的薄膜/基底合并菜單
可測量雙膜結(jié)構(gòu)中的單膜厚度及折射率
體材料或基底材料的高精度折射率測量
快速測量薄膜或漫反射光波導(dǎo)參數(shù)（20秒）
技術(shù)指標(biāo)
折射率精度:±0.001 (甚至更高 0.0001-0.0002)
折射率分辨率: ±0.0003(甚 至高于0.00005)
厚度精度:±(0.5%+50Å) 厚度分辨率:±0.3%
折射率測量范圍:2.65以下(一些情況可達3.35以下)
操作波長:632.8nm,1310nm,1550nm以及其他可見光/近紅外光
允許的基底材料:硅、砷化鎵、玻璃、石英、GGG、藍寶石、鋰酸鈮等
軟件:windows version 操作軟件
輸出:計算機顯示和打印機輸出
特點
中/厚膜膜厚折射率(尤其是光波導(dǎo))的佳的選擇
不需要預(yù)先知道膜的厚度
獨特的氣壓耦合方式,不需要加耦合液
測試原理：當(dāng)光入射到棱鏡上,隨著旋轉(zhuǎn)臺的旋轉(zhuǎn),入射角就隨之發(fā)生了變化,在某一個入射角度,光子就會經(jīng)空氣狹縫進入薄膜傳 輸出來,因此探測器得到的光子能量就會降低,形成凹陷,這叫做泄漏模。第一個模的位置決定了薄膜的折射率,而模間 隔決定了薄膜的厚度。
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